2026.07.09 リガク、半導体計測装置の実習専用拠点を大阪に開設　サービスエンジニアの技術力向上へ

ウエハー表面の汚染元素を測定できるＸ線分析装置「TXRF-V310」を用いたトレーニングの様子＝リガク ソリューションセンター大阪

▶記事本文へ