2020.08.11 【SMT/SMD特集】東京ウエルズAI搭載など外観検査装置を拡充
MMIH「TWA-1100」
東京ウエルズはダイオード、トランジスタ、LEDなどの個別半導体、LCRなど電子部品向けの測定検査機、テーピング機メーカー。これらで培った技術を応用した外観検査装置が市場で好評を博している。
外観検査装置の主力機種のTWA-4101にAI(人工知能)を搭載した機種の製品化も進む。
外観検査装置は電子部品用測定検査機で磨いてきた画像技術を駆使しコンデンサ、インダクタ、ダイオードなどの良否を判別する。積層セラミックコンデンサ用6面外観検査装置として、これまで多くの出荷実績があり、同社のテーピング機、測定検査機、端子塗布機に続く事業の柱に位置付けられる。新たに搭載されたAI機能では、これまでの検査アルゴリズムの作成における複雑な構成、熟練が必要なユーザーにおける判定閾値の設定の簡素化を図る。また、過剰検出により、本来であれば良品である個体の不良品判定率の大きな低減に貢献することが期待されている。
同社が外観検査装置に続く新たな柱として期待をするのが「MMxH」シリーズである。異形部品や中サイズ以上のデバイスを対象としており、機械の各部をモジュール構成することで柔軟な構成変更が可能となっている。汎用テストハンドラ「MMTH(マルチモジュールテストハンドラ)」、部品移載整列装置「MMIH(マルチモジュールインサートハンドラ)」、新型外観検査装置の「MMVH(マルチモジュールヴィジョンハンドラ)」の開発、販売を開始している。
同シリーズは、モジュールの組み替えによる多品種対応の検査、複雑形状品の検査および搬送時の製品同士の接触を避けるニーズ、電子部品や半導体素子などの整列とパレットに移載・格納など様々な要望に応える。
工場のスマート化に対応するため、工場内のネットワークに接続可能なPCによるネットワーク仕様も各顧客対応が可能。
電子部品のあらゆる検査ニーズに対応すべく、これまでの技術の応用と、最新技術を導入してチャレンジすることが同社の基本戦略になっている。