2021.09.17 OKIエンジニアリング、電子部品解析で良品評価品質向上へ多様な試験を受託

赤外線発熱解析装置で故障部位を特定

赤外線発熱解析装置で故障部位を特定

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赤外線発熱解析装置で故障部位を特定
OKIエンジニアリングの本社。半導体・電子部品の評価解析、化学・分析などを行う
光学顕微鏡で故障の真の原因を確認
クリーンブース内のLSIテスター
宇宙航空用の大型FPGAを評価する恒温槽。信号発生ボードは自社開発した

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