汎用テストハンドラーを製品化

　東京ウエルズは搬送、制御・回路・計測・画像をコア技術にダイオード、トランジスタ、LEDなどの個別半導体、LCRのなど受動電子部品向けの端子塗布機、測定検査機、テーピング機などを市場に提供している。

　「ネプコンジャパン」では、部品外観検査装置等の搬送技術などを応用して新たに開発、製品化したテストハンドラーを出展する。

　テストハンドラーは汎用（はんよう）テストハンドラー「MMTH」、つり搬送式「MMVH」、部品移載整列装置「MMIH」がある。

　汎用テストハンドラーMMTHは、顧客のその時の要望に合わせて組み替えることができるテストハンドラー装置。供給、テスト、排出の各部をモジュール化して、多彩なテストモジュール（各種外観検査、各種電気測定、光学測定、温度計測など）を組み合わせることで幅広いニーズに対応する。同展示会ではMMTH006（高周波測定テーピング機）の実機展示を行う。

　MMVHはつり搬送式にすることで機構部品などにおいても安定的な搬送を実現したテストハンドラー。

　吸着搬送することでさまざまな形状の製品の外観検査が可能なほか、複雑形状品の検査および搬送時の製品同士の接触を避けるニーズ、電子部品や半導体素子などの整列とパレットへの移載・格納などさまざまな市場要望に応える。

　部品移載整列装置MMIHは、電子部品や半導体素子などを整列させパレットに移載、格納する装置で、比較的大型の電子部品、および個別部品のトレー整列に適する。

　電子部品用測定検査機で培った画像技術を駆使しコンデンサー、インダクター、ダイオードなどの良否を判別する外観検査装置は主力機種のTWA-4100シリーズなどを提案する。