2023.10.09 アルバック・ファイが質量分析装置に旗艦モデル 来年4月から出荷開始
PHI nanoTOF 3⁺
アルバック・ファイは、飛行時間型二次イオン質量分析装置の旗艦モデル「PHI nanoTOF 3⁺」の販売を開始し、来年4月から出荷する。固体試料に照射したイオンビーム（一次イオン）と、表面から放出されるイオン（二次イオン）の飛行時間差を利用して質量分離する手法で、検出感度が高い。
同製品では幅広い試料に対応し、測定の効率性と信頼性を向上させ、測定者の熟練度に左右されない高品質なデータが取得できる。前機種をベースに①新開発アナ... (つづく)
