2023.12.20 アドバンテスト、計測ソリューションを相次ぎ開発　メモリーテスターを拡充

「セミコンジャパン2023」で新ソリューションを展示したアドバンテスト

　アドバンテストは、微細化や先端パッケージング、高集積化、高速インターフェースの採用などに伴う半導体の新たな課題に応える計測ソリューションを相次ぎ開発した。「セミコンジャパン2023」で各ソリューションを紹介した。

　SoCテスター「V93000 EXA Scale」は、アプリケーションに応じてさまざまな計測機能を持つカード（モジュール）を組み替えて使用するシステム。「Pin Scale Multilevel Serial」は、...　　(つづく)