アドバンテストは、SSDテストシステム「MPT3000シリーズ」向けソリューションを発表した。

　量産テストでの個別温度制御が可能なデバイス・インターフェース・ボード「The Independent Thermal Control（ITC） device interface boards（DIBs）」と設計検証用「Engineering Thermal Chamber（ETC）」の2種。SSDやCXLデバイス開発の初期段階での...　　(つづく)