2023.11.17 米テラダイン、半導体試験効率を最大化 RF24ギガヘルツモジュール拡張
SLT装置「Titan」
微細化に伴うプロセスの進化と先端パッケージへの対応で半導体テストは、より複雑さを増している。米テラダインの半導体検査装置（テスター）は、試験コスト低減とともにさらなる試験効率化への要求に応えるため進化を続けている。
自動運転や人工知能（AI）の進展、5Gやクラウド、エッジコンピューティングなどの普及でデータ通信量はますます増大。プロセッサーなどの半導体デバイスには莫大なデータ処理能力が必要とされるとともに搭載数も増加している... (つづく)
