2024.09.06 東陽テクニカが新型FIB-SEM発売　チェコTESCAN社製

AMBER X 2

　東陽テクニカは3日、新型Xe（キセノン）プラズマFIB-SEM（集束イオンビーム／走査電子顕微鏡）「AMBER X 2」を発売した。この製品はチェコのSEMメーカー大手のTESCAN社製。イオン源から引き出されたイオンビームを集束・走査して試料に照射するFIBカラムでは新型を搭載して、FIBの高電流性能を向上させ、スループットが向上。AI（人工知能）技術も搭載し、作業の効率化を促す。

　FIB-SEMは高機能材料や電子デバイス...　　(つづく)