2024.09.25 キーサイト、ワイヤボンディングの不良識別検査ソリューションをリリース
検査ソリューション「EST」
米キーサイト・テクノロジーズ日本法人は19日、電子部品の完全性と信頼性を保証する半導体製造用ワイヤボンディング検査ソリューション「Electrical Structural Tester（EST）」をリリースした。
ESTはワイヤボンディングとセンサープレートの間に容量構造をつくり、ワイヤサグ（たわみ）、ワイヤ近接、ストレイワイヤ（迷線）などの微細な不良を識別し、ワイヤボンディングの状態を総合的に評価する。特徴は①効率的な不... (つづく)
