2022.05.13 アドバンテスト、探針のメンテ周期最適化プローブカードの延命に効果

　アドバンテストは、半導体ウエハー試験に用いるプローブカードのニードル（探針）のクリーニング周期を最適化するソリューション「ACS APC」を発表した。

　業界初の試みとし、先行してアジアや欧州の顧客が採用している。STマイクロエレクトロニクスは2カ所の工場に導入。製造歩留まりが向上したほか、プローブカードの延命、テスト・システムの稼働時間の伸長といった効果が表れているという。

　プローブカードは、ピン数と機...　　(つづく)