2020.01.15 【インターネプコンジャパンブース】レクザム
3次元検査装置「Sherlock－D－1100SJ」
ラインアップの充実訴求
レクザムは国内外の自社工場ラインで培われたノウハウを凝縮した機能性・操作性を確立している基板検査装置「Sherlockシリーズ」を出展する。
M型基板対応の2次元検査装置「Sherlock-300I/300F」では、検査部品が標準倍率では0603、高倍率では0402に対応し、検査速度5000平方ミリメートル/秒を実現している。またパワー系基板に多く見られる... (つづく)
