NECは9日、米国国立標準技術研究所（NIST）が実施した顔認証技術のベンチマークテスト「Face Recognition Technology Evaluation（FRTE）」の「1:N Identification」分野で、世界第1位の評価を獲得したと発表した。大規模データを用いた認証性能比較で、世界の企業・研究機関が提出したアルゴリズムの中で最も高い精度を示した。

　今回のテストでは、約1200万人分の静止画像を用いた1:N認証で認証エラー率0.06％を記録し、提出されたアルゴリズムの中でトップの評価を得た。また、約160万人分の画像を用いた二つのテストや、撮影から12年以上経過した画像を対象とした経年変化のテストでも第1位となるなど、主要8項目のうち4項目で首位を獲得した。

　NISTの顔認証ベンチマークテストは、各組織が提出したアルゴリズムを同一条件でブラインド評価する方式で実施される。厳格で公正性の高い評価として知られ、世界の顔認証技術の性能を比較できる代表的な試験の一つとして位置付けられている。NECは2009年の初参加以来、特に高精度が求められる1:N認証の分野で複数回、世界第1位の評価を得ている。

　さらに同社は、グローバル調査会社Frost & Sullivanが公表したレポート「Frost Radar: Biometric Solutions, 2025」でも、イノベーション指数でリーダーシップのスコアを獲得し、3回連続で「Market Leader」に位置付けられた。

　NECの顔認証技術は、世界約300の空港をはじめとする交通機関、オフィスビル、工場、ホテル、テーマパーク、病院、マンション、店舗、金融機関、自治体など幅広い分野で導入が進んでいる。現在は世界50以上の国・地域で展開しており、入退管理にとどまらず、おもてなし、見守り、店舗決済、ATMでの諸手続きなど多様な用途での活用が広がっている。

　同社は今後、従来のフィジカルセキュリティー領域に加え、デジタル社会での新たなユースケースにも対応するソリューション開発を進める方針。