2021.11.10 表面分析装置を拡充アルバック・ファイが2機種
多機能走査型X線光電子分光分析装置
アルバックグループのアルバック・ファイ（神奈川県茅ヶ崎市）は、X線光電子分光分析装置（XPS）と、飛行時間型二次イオン質量分析装置（TOF-SIMS）のフラッグシップモデルとなる多機能走査型XPS「PHI VersaProbe 4」と、TOF-SIMS「PHI nanoTOF 3」の出荷を来年4月から出荷開始する。
PHI VersaProbe 4は、日本国内のほか北米、EMEA、成長著しい中国市場など全世界でシリーズ累計4... (つづく)
