2025.05.07 アンリツが「光と画像のセンサ&イメージングEXPO」に出展 波長掃引光源やSLD訴求 幅広い分野の計測に活用
光源「AQA5500D」「AQB5500D」はユニットに組み込み、使い勝手を高めて提供
アンリツはパシフィコ横浜で開催された展示会「光と画像のセンサ&イメージングEXPO」(主催=オプトロニクス社、会期=4月23~25日)に出展。幅広い分野の計測に活用できる波長掃引光源、SLD(スーパールミネッセントダイオード)などのデバイス製品をPRした。
今回は、産業や医療、通信向けに光センシング・デバイス、電子デバイスなどを手掛ける同社センシング&デバイスカンパニーによる出展となる。
波長掃引光源は、波長を連続的に変化させたレーザー光を発生させる。この光源はレーザー光のコヒーレンス性(可干渉性)を利用した光計測法の一つである「OFDR」での使用に適している。
センシング用光源として精密厚さ計測をはじめ、大型構造物の変位・ゆらぎ計測、振動計測、表面検査、産業用OCT(光干渉断層計)、眼科OCTなど、さまざまな幅広い分野を対象に使用されている。
同社の波長掃引光源「AQA5500D(掃引周波数1.25キロヘルツ)」「AQB5500D(同150ヘルツ)」はビルトインタイプで各種装置に組み込め、中心掃引波長1550ナノメートル帯の単一縦モードを位相連続で掃引する。形状計測向きでコヒーレンス長... (つづく)