2022.01.10 アドバンテストがメモリー・テスト・システムテスト時間とコスト削減
テスト・ステーション（左）とシステム・コントローラー
アドバンテストは、NANDフラッシュをはじめとする不揮発性メモリーを高精度にテストするメモリー・テスト・システム「T5221」を発表した。
従来製品比5倍のデータ転送速度、マルチ・プローバー内部に組み込み可能な省スペース、最大12台のテスト・ステーションを同時測定可能で、テストコストの削減とスループットの向上を可能にする。ウエハー・テスト、BIST（デバイス内部に自己診断回路を組み込むテスト手法）と、ウエハー・バーンイン・テ... (つづく)
