2024.06.26 日立ハイテクが走査型探針顕微鏡システムを発売　解析装置間で連携

走査型プローブ顕微鏡システム「AFM5500MⅡ」

　日立ハイテクはこのほど、SEM（走査電子顕微鏡）やAFM（原子間力顕微鏡）などの解析装置との連携機能を強化した走査型プローブ（探針）顕微鏡システム「AFM5500MⅡ」を発売した。

　新製品はAFMマーキング機能を搭載し、同一試料を複数の解析装置で観察する際の観察精度・操作性を向上させた。

　従来、複数の解析装置で同一試料観察を簡便に行えるリンケージシステムを提供していた。しかし解析装置によっては観察範囲の...　　(つづく)