2022.08.05 【SMT/SMD特集】東京ウエルズ汎用テストハンドラー「MMxH」部品の搬送技術応用

テストハンドラーMMVH

 東京ウエルズは、測定検査機、テーピング機で培った技術を応用し、製品化した外観検査装置が市場で好評だ。

 外観検査装置はコンデンサー、インダクター、ダイオードなどの良否を判別する。同装置の主力機種はTWA-4100シリーズ。パーツフィーダーから供給された電子部品を静電チャック方式と呼ばれる回転するガラステーブル上で搬送(ガラス搬送方式)、その過程で6台のカメラ(CMOSイメージセンサー)を使って撮像し、前後左右上下6面の外観検査を行う。新たに検査アルゴリズムに人工知能(AI)を搭載した。これまでの検査アルゴリズムの作成における複雑な構成、熟練が必要なユーザーにおける判定閾(いき)値の設定を一挙に簡素化する。

 新たに部品外観検査装置の搬送技術などを応用して汎用(はんよう)テストハンドラー「MMxH」を製品化した。

 MMTHは、供給、テスト、排出の各部をモジュール化し、多彩なテストモジュール(各種外観検査、各種電気測定、光学測定、温度計測など)を組み合わせることで幅広いニーズに対応する。MMIHは、電子部品や半導体素子などを整列させパレットに移載、格納する装置で、比較的大型の電子部品および個別部品のトレー整列に適する。MMVHは、つり搬送式にすることで機構部品などにおいても安定的な搬送を実現した。