2026.07.17 半導体の検査を効率化するDFT、ラボで手軽に　アドバンテストが環境を用意

SiConicによるDFT環境（出所＝アドバンテスト）

　高性能化とともに複雑になった半導体は、設計段階でDFTと呼ぶ仕組みを導入しておかなければ、正しく動作するかどうかを効率よく検査できない。検査装置のアドバンテストは技術者が量産用の自動検査装置（ATE）を占有しなくてもラボにあるベンチ（作業台）レベルでDFTが適切に働くか検証ができる環境を用意した。

　同社は25年から半導体に必要な各種の検証を自動化する機器やソフトウエアなどの製品群「SiConic（サイコニック）」シリーズを展...　　(つづく)