2020.07.10 集光径6ナノメートルのX線自由電子レーザー大阪大などの研究グループが 形状を正確に計測する新手法確立
スペックルを利用した集光ビーム診断法
大阪大学、理化学研究所（理研）、高輝度光科学研究センター（JASRI）などの研究グループは、多層膜集光鏡を用いたX線自由電子レーザー（XFEL）のナノ集光実験において、6ナノメートルのX線ビームの形成を新手法で実証することに成功した。
XFELは、X線とレーザーの性質を併せ持つ最先端の光。非常に強いX線パルスであり、非線形現象の観察やタンパク質1分子の撮影などに利用されつつある。より小さく絞ることによって得られる超高密度X線... (つづく)
