2026.11.04 フィリピンIMIのグローバル責任者ガーフィン氏、高度故障解析の拡充に意欲　先端半導体需要に対応へ 

IMIのATC部門グローバル責任者ジェイ・ガーフィン氏

　フィリピンの電子機器受託製造サービス（EMS）大手インテグレーテッド・マイクロエレクトロニクス（IMI）の分析試験・校正ラボ（ATC）部門は、半導体の微細化や先端パッケージ技術の進展に対応するため、高度な故障解析・診断技術の拡充を進めている。10月末マニラで開催された半導体・電子機器の展示会「PSECE 2026」で、ATC部門グローバル責任者のJoey Garfin（ジェイ・ガーフィン） 氏が本紙にその取り組みを明らかにした。

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