外観検査装置TWA-4101を展示

　東京ウエルズは、ダイオード、トランジスタ、LEDなどの個別半導体、LCRのなど受動電子部品向けの面電極塗布機、測定検査機、テーピング機メーカー。「ネプコンジャパン」に出展し、主力製品の外観検査装置TWA-4101を展示する。

　同装置はコンデンサ、インダクタ、抵抗チップなどの外観不良品を、画像検査を駆使して前後、上下、左右、全6面を検査するもので、特に積層セラミックコンデンサ用の外観検査装置としてこれまで数多くの出荷実績がある。

　同社は近年、既存の検査アルゴリズムに、ディープラーニング検査アルゴリズムを搭載したハイブリッド検査システムの製品化を進めており、従来高度な専門知識と長い習熟期間が必要であった検査アルゴリズム作成業務の簡素化と、検査精度向上による過剰検出品（本来であれば良品である個体の不良品判定率＝オーバーキル）の低減効果が期待されている。

　同社は小型チップ部品の外観検査、特性検査、テーピング機を主力商品として位置付け、21年も様々な用途で需要の高まる電子部品の製造・検査工程の省力化に貢献する。

　異形部品や中サイズ以上のデバイスなどを対象に、MMVH（Multi-Module　Vision Handler）と名付けた新型外観検査装置の製品化のほか、非破壊検査など新たな事業領域にも積極的に取り組んでいる。