東京ウエルズは、電子部品用のテーピング機、測定検査機の技術を発展させて、外観検査装置事業を軌道に乗せている。

　外観検査装置は、電子部品用測定検査機で培った画像技術を駆使しコンデンサ、インダクタ、ダイオードなどの良否を判別する。同装置の主力機種はTWA-4100シリーズ。パーツフィーダから供給された電子部品を、静電チャック方式と呼ばれる回転するガラステーブル上で搬送（ガラス搬送方式）し、その過程で6台のカメラ（CMOSイメージセンサー）を使って撮像して、前後左右上下6面の外観検査を行う。

　また「ノズル搬送方式（吊り搬送方式）」を採用した新型外観検査装置も開発した。従来のインデックステーブル搬送やガラステーブル搬送方式では対応できない形状（コネクタや多端子モジュールなど）の外観検査に対応する。

　新たに検査アルゴリズムにAI（人工知能）を開発した。AIの搭載により、これまでの検査アルゴリズムの作成における複雑な構成、熟練が必要なユーザーにおける判定閾値の設定を一挙に簡素化する。

　新たに部品外観検査装置の搬送技術などを応用して、汎用テストハンドラ「MMTH（マルチモジュールテストハンドラ）」と部品移載整列装置「MMIH（マルチモジュールインサートハンドラ）」を開発、販売を開始した。

　汎用テストハンドラのMMTHは、顧客のそのときの要望に合わせて組み替えることができるテストハンドラ装置。供給、テスト、排出の各部をモジュール化し、各種外観検査、各種電気測定、光学測定、温度計測など、多彩なテストモジュールを組み合わせることで幅広いニーズに対応する。

　部品移載整列装置MMIHは、電子部品や半導体素子などを整列させパレットに移載、格納する装置で、比較的大型の電子部品および個別部品のトレー整列に適する。